最直接的鍍膜控製方法是石英晶體微量平衡法(QCM)，這種儀器可以直接驅動蒸發源，通過PID控製循環驅動擋板，保持蒸發速率。隻要將儀（yí）器與（yǔ）係統控（kòng）製軟件相連接（jiē），它就可以控製整個的鍍膜過程。但是(QCM)的精確（què）度是有限的，部分原因是由於它監控的是被鍍膜的質量（liàng）而不是（shì）其（qí）光學厚度。
    此外（wài）雖然QCM在較低溫（wēn）度下非常穩定，但溫度較高時，它會變（biàn）得對溫度非（fēi）常敏感。在長（zhǎng）時間的加（jiā）熱過程中，很難阻（zǔ）止傳感器跌（diē）入這個敏感區域，從而對膜（mó）層造成重大誤差（chà）。
    光學監控是高精密鍍膜的的首選監控方式，這是（shì）因為它可以更精確地控製膜層厚度(如果運用得當)。精確度的（de）改進源於很多因素,但最根本（běn）的原因是對光學厚度的監控。
    OPTIMAL SWA-I-05單波長光學監控係（xì）統，是采用間接測控，結合汪博士開發的先進光學監控軟件，有效（xiào）提高光學（xué）反應對膜厚度變（biàn）化靈敏（mǐn）度的（de）理論和方法來減少終極誤差，提供了反饋或傳輸的選擇模式和大範圍的監測波長。特別適合（hé）於（yú）各種（zhǒng）膜厚的鍍膜監控包括非（fēi）規整膜監控。

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