我們日常生活中，很多生活物品都經過鍍膜機鍍上了一層膜層，讓產品（pǐn）不僅變得更美觀，也更實用。但是很多人會（huì）有一個疑問，那既然是鍍了一層膜（mó）層，薄膜肯（kěn）定是有厚度大小的，那麽薄膜厚度具體多厚呢，以及怎麽去測量？

       薄膜（mó）必須沉積在基底之上（shàng）， 所以離開（kāi）了基片也就無從談薄膜沉積的問題。基片（piàn）的清洗好壞又對薄膜的質最（zuì）有極共重要的影響（xiǎng）。同（tóng）時在薄膜的製作中還必須（xū）知道薄膜的厚度（dù），脫離了薄膜的厚度來談（tán）薄膜性（xìng）質（zhì）的測最也是亳無意義（yì）的。 所以， 膜厚（hòu）的測量和基片的清（qīng）洗可以說是和薄膜製（zhì）作相關的重要技術。一（yī）般（bān）所謂的厚度是指兩個完全（quán）平整的平（píng）行平（píng）麵之間的距離，這個概念是一個幾（jǐ）何概念。

        理想（xiǎng）的薄膜厚度是指（zhǐ）基片表（biǎo）麵和薄膜表麵（miàn）之間的距離。在薄膜形貌的（de）三維度量中，相對於薄膜的厚度（dù）來講，其（qí）他兩維的度（dù）量（liàng）可以說是無窮大。由（yóu）於實際上存在的表麵是不平整和不連續的，而且薄膜的內部還可能存在著氣孔、雜質、晶格缺陷和表麵吸附分子等等（děng），所有要嚴格（gé）地定義和精確（què）地測量薄膜的厚度實際上是很困難（nán）的。

        膜厚的定義位當根據（jù）測址的（de）方法和測址的目的決定。 因此，同（tóng）一個薄膜，使用不同的測量方法會（huì）得（dé）到不同的結果， 即（jí）不同的厚度。

        在薄膜油測量中的表麵並不是一個幾何的概念，而是一個（gè） 物埋概念（niàn），是指表麵分子（原子（zǐ））的集合。 平均表麵是指表麵原（yuán）子所有的點到這個麵的距（jù）離代數和等於零， 平均表麵是一個兒何概（gài）念。

        我們通常將基片的一側的表麵分子的集合的平均表（biǎo）麵稱為基片（piàn）表麵；薄膜上不和基片接觸的那（nà）一側的表麵的（de）平（píng）均表麵稱為薄膜的形狀表麵，將所測（cè）量的薄膜原子重新排列，使其密度和大塊狀（zhuàng）固體材料完（wán）全一樣且均勻的分布在基片表麵上，這時平均表麵稱為薄膜質量等價表麵；根據所測量薄膜的物理性質等效為一種長度和寬度與所測量的薄膜一樣的大塊固體材料（liào）的薄膜，這時的（de）平（píng）均表麵（miàn）稱為薄（báo）膜物性等價表麵。 形狀膜厚是比較接近於（yú）直觀形式的（de）膜厚， 通常以µm為單位； 質（zhì）量膜厚（hòu）反映了薄膜中包（bāo）含物質為多少，通常 以（yǐ） µg/cm#8217;為單位， 物性膜厚在實際使用上較有用， 而且（qiě）比較容易測量。

         由（yóu）於實際表麵並不平整，同（tóng）時薄膜製作過程中（zhōng）又不可避免（miǎn）地要（yào）有各（gè）種缺陷、 雜質和吸附（fù）分子等存在，所以（yǐ）不管用哪 一種方法來定義和測量膜厚，都是一個平均值，而且足（zú）包括了雜質、缺（quē）陷以及吸附分子在內（nèi）的薄膜的厚度值（zhí）。

        真空鍍膜機鍍膜（mó）是在真空腔體下進行鍍膜的，對（duì）於（yú）測量（liàng）膜厚度來說，是需要這方麵專業的測量儀才能測出（chū）厚度大（dà）小。

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